A、2.5MHz双晶直探头 B、4-5MHz双晶直探头 C、4-5MHz单晶直探头 D、5MHz单晶直探头
A、对比试块与被检件或材料化学成份相似 B、试块的外形尺寸能代表被检工件的特征 C、对比试块的厚度与被检工件厚度相对应,涉及到不同工件厚度对接接头检测,试块厚度选择应由其较大工件厚度确定 D、对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准
A、V形槽 B、U形槽 C、矩形槽 D、V形槽或矩形槽
A、要求焊缝余高磨平 B、要求横向缺陷检测 C、要求母材检测 D、A和C
A、C级检测或必要时要进行母材检测 B、母材检测目的是检查斜探头移动区是否存在分层或其它缺陷 C、母材检测不属于对母材的验收检测 D、检测中发现的当量大于等于φ2mm的缺陷作标记并记录