A、2.5MHz双晶直探头
B、4-5MHz双晶直探头
C、4-5MHz单晶直探头
D、5MHz单晶直探头
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A、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA
B、GS-1、GS-2、GS-3和GS-4
C、CS2、CS3
D、CSK-IA、DZ-Ⅰ、DB-PZ20-2
A、对比试块与被检件或材料化学成份相似
B、试块的外形尺寸能代表被检工件的特征
C、对比试块的厚度与被检工件厚度相对应,涉及到不同工件厚度对接接头检测,试块厚度选择应由其较大工件厚度确定
D、对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准
A、扫查灵敏度都高于基准灵敏度
B、扫查灵敏度比基准灵敏度高6dB
C、扫查灵敏度都等于基准灵敏度
D、扫查灵敏度应根据表面状况、缺陷检测要求及探头类型等适当提高dB数(增益)
最新试题
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