A、分层
B、夹渣
C、未结合
D、裂纹
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A、可以采用2.5P10ⅹ12K1横波斜探头
B、人工反射体可以采用边角反射等其它形式
C、以锻件内外表面V型槽的距离-波幅曲线作为基准灵敏度
D、波幅在距离波幅曲线(基准线)50~100%的缺陷按缺陷指示长度进行分级
A、外圆面径向纵波探测
B、外圆面周向横波探测
C、外圆面轴向横波探测
D、以上都是
A、DZ-Ⅰ
B、DB-P
C、CS2和CS4
D、CS3和CS4
A、0.5-1MHz双晶直探头
B、1-5MHz双晶直探头
C、2.5MHz单晶直探头
D、5MHz单晶直探头
A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距离-波幅曲线
B、双晶探头检测时,缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于显示屏高度的50%
C、底面第一次反射波B1波幅低于显示屏高度的50%,即B1<50%
D、以上都是
A、全面扫查
B、列线扫查
C、格子线扫查
D、中部区域列线扫查或格子线扫查加坡口预定线两侧范围内100%扫查
A、阶梯平底试块
B、φ5平底孔试块
C、CS2
D、CS3
A、2.5MHz双晶直探头
B、4-5MHz双晶直探头
C、4-5MHz单晶直探头
D、5MHz单晶直探头
A、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA
B、GS-1、GS-2、GS-3和GS-4
C、CS2、CS3
D、CSK-IA、DZ-Ⅰ、DB-PZ20-2
A、对比试块与被检件或材料化学成份相似
B、试块的外形尺寸能代表被检工件的特征
C、对比试块的厚度与被检工件厚度相对应,涉及到不同工件厚度对接接头检测,试块厚度选择应由其较大工件厚度确定
D、对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准
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最新试题
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NB/T47013.3-2015标准规定,距离—波幅曲线绘制在荧光屏上时,在检测范围内最大声程处的评定线高度不应低于荧光屏满刻度的20%。
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