A.clock skew B.组合电路的最大延迟 C.FF的Setup时间 D.FF的Hold时间
A.禁止使用循环组合电路 B.FF的时钟信号必须能够从外部端口直接控制 C.FF的复位信号必须能够从外部端口直接控制 D.扫描测试时，RAM和内核需要分开进行设计
A.由于内嵌测试模式发生器，不需要额外生成测试模式 B.由于只输出GO/NOGO，故障分析很困难 C.由于内嵌测试输出评估部，不需要高价测试设备，可降低成本 D.不可用于Burn-In测试
A.A B.B C.C D.D
A.DIP B.QFP C.BGA D.CSP
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