判断题磁粉探伤用RT表示。
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1.判断题射线探伤适用于检测任何缺陷。
2.判断题射线探伤只适用于探测体积型缺陷。
3.判断题射线探伤必须使用具有感光特性的胶片。
5.判断题无损探伤主要检测被检对象的宏观缺陷。
6.判断题无损检测是无损探伤的一个重要组成部分。
7.判断题迟到波的产生是由于探头频率太高引起的。
8.判断题无损检测不能对被检对象实行100%的检。
9.判断题无损探伤过程中,不能损伤被检对象。
10.判断题无损探伤的常规方法有四种。
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