（）需要试样与参比物之间温度始终保持相同。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。

热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。

孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。

差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。

拉曼光谱分析时，1500cm-1以上的谱带必定是一个基团的频率，解释通常是可靠的，一般可以确信其推论。

每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。