拉曼光谱分析仪在使用过程中，正确的实验操作有（）。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

扫描隧道显微镜能用于观察导体、半导体和绝缘体材料的表面结构。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。

根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。

利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。