X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。

利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。

在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。

关于stokes线和anti-Stokes线，说法正确的是（）。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

拉曼光谱分析时，1500cm-1以上的谱带必定是一个基团的频率，解释通常是可靠的，一般可以确信其推论。

粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。

透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。