A.Ig=0；
B.Ig<0；
C.Ig>0；
D.Ig=Imax。
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A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑
C、选区光阑
D、索拉光阑
A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合
B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合
C、关闭中间镜
D、关闭物镜
A、物镜的物平面
B、物镜的像平面
C、物镜的背焦面
D、物镜的前焦面
A、物镜的物平面
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D、物镜的前焦面
A、第二聚光镜光阑
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A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
A、电子源
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A、德布罗意
B、鲁斯卡
C、德拜
D、布拉格
最新试题
粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。
在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。
利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。
在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。
（）需要试样与参比物之间温度始终保持相同。
透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。
热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。
每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。
在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。
1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。