粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。

在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

关于stokes线和anti-Stokes线，说法正确的是（）。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子，能量基本上没有损失。

在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。

根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。

简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。