热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。

电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。

每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。

电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。