判断题同类型探头,面积相同,频率相同的圆晶片和方晶片的近场长度相同。
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4.判断题声束指向性与频率有关,与波型无关。
6.判断题探头频率越高,声束扩散角越小。
9.判断题超声波频率越高,近场区也就越长。
10.判断题超声纵波斜入射到端角时,端角反射率总是很高的。
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最新试题
测定仪器垂直线性和动态范围时,应将仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮置于关的位置。
题型:判断题
检测面准备的目的是为了保证良好的声耦合。
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单探头法是反射法,双探头法都是穿透法。
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工件比较粗糙时,为防止探头磨损和保护晶片,宜选用硬保护膜。
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纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。
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利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围。
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与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
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当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。
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测定“始脉冲宽度”时,应将仪器的灵敏度调至最大。
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纵波斜探头法的优点是工件中既有纵波,又有横波,因此可同时用纵波和横波进行缺陷检测。
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