A.贝克线法
B.色散法
C.斜照法
D.衍射法
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A.正方体
B.三轴椭球体
C.圆球体
D.旋转椭球体
A.平行消光
B.对称消光
C.正消光
D.斜消光
A.完全解理
B.不完全解理
C.一般解理
D.解理
A.晶体的形状
B.晶体的颜色
C.晶体的突起
D.晶体的结晶度
A.垂直光轴的切面
B.垂直bxa的切面
C.垂直光轴面的切面
D.平行光轴面的切面
A.一次
B.五次
C.六次
D.三次
A.最大的内能
B.自限性
C.均一性
D.对称性
A.光学成像系统
B.电子系统
C.电气系统
D.减震系统
A.磁场分布是严格轴对称
B.满足旁轴条件
C.电子波的波长(速度)相同
D.电子波的波长不同
A.具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分
B.为一种微区分析方法,具有很高的分辨率,成像分辨率达到0.2~0.3nm(TEM),可直接分辨原子,能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析
C.各种仪器日益向多功能、综合性方向发展
D.操作复杂
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