A.是否受潮
B.绝缘是否不老化
C.油质劣化
D.绝缘上附着油泥
E.严重局部缺陷
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A.相对湿度≤80%
B.表面清洁
C.套管的接地与测量仪的接地要连在一起
D.被测套管ABC0短路加压
A.电压
B.电流
C.频率
D.气压
A.贯穿性缺陷
B.整体受潮
C.小体积试品的局部缺陷
D.大体积试品的局部缺陷
A.空气
B.石蜡
C.玻璃
D.陶瓷
A.电晕起始电压较低,而击穿电压较高
B.击穿电压较低,而电晕起始电压较高
C.电晕起始电压和击穿电压均较低
D.电晕起始电压和击穿电压均较高
A.tgδ=(tgδ1+tgδ2)/2
B.tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1-C2)
C.tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1+C2)
D.tgδ=(C2tgδ1+C1tgδ2)/(C1+C2)
A.由于绝缘体内部或表面存在气隙(泡)而导致气隙(泡)内的放电
B.绝缘体中若有导电杂质存在,则在此杂质边缘由于电场集中,也会出现局部放电
C.在高电压端头上,如电缆的端头等部位,由于电场集中,而且沿面放电的场强比较低,往往就沿着介质与空气的交界面上产生表面局部放电
D.绝缘结构形式
A.I0A≈I0C>I0B
B.I0A≈I0C<I0B
C.I0A=I0C+I0B
D.I0C=I0A+I0B
A.10倍
B.20倍
C.50倍
D.100倍
A.高
B.低
C.相同
D.以上均不对
最新试题
在现场相同条件下(好天气),用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的。
若仪表刻度不均匀,则在分度线较密的部分,读数误差较大,灵敏度也较低。
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