A.单晶片直射纵波
B.双晶片斜射纵波
C.斜入射横波
D.双探头透射法
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A.φ2.0-6dB/100 mm
B.φ2.0+6dB/100 mm
C.φ2.0-12dB/100 mm
D.φ2.0+12dB/100 mm
A.193.5%
B.93.5%
C.12.5%
D.1.0%
A.可以不考虑探伤面的声能损失补偿
B.可以不考虑材质衰减的补偿
C.可以不使用校正试块
D.以上都是
A.100mm
B.200mm
C.300mm
D.400mm
A.底面与探伤面不平行
B.工件内部有倾斜的大缺陷
C.工件内部有材质衰减大的部位
D.以上都有可能
A.调整探头角度
B.调整水距
C.调整声束中心线与管轴距离
D.以上都可以
A.耦合条件差
B.声波穿透性差
C.底面反射差
D.表面分辨力差
A.发散
B.聚焦
C.折射
D.透射
A、纵波圆周扫查
B、横波圆周扫查
C、纵波轴向扫查
D、横波轴向扫查
A.距离—dB曲线法
B.面板曲线法
C.对比试块法
D.以上都是
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