A.由于吸收作用，探测器的窗对活度测量会有影响
B.α源与探测器间的空气也会影响测量的活度结果
C.对于β射线的测量，散射情况一般需要考虑
D.由于反散射的影响，需要用高Z材料做β源托，降低反散射

A.点源情况下的源的形状
B.探测器的种类
C.探测器的大小尺寸
D.入射粒子的种类

A.放射源一般都比较小，所以都可以看做点源
B.只有源的直径远小于探测器距源的距离时才可以将其看做点源
C.只有源的直径远小于探测器敏感体积的尺寸时才可以将其看做点源
D.非点源情况下，无法用解析的方法计算探测效率

A.测量开始的时间
B.探测器本征探测效率
C.环境本底的计数率
D.源与探测器几何位置关系

A.相对法需要一个已知活度的源作参照
B.使用相对法测量更加简便，所以是活度测量的基本方法
C.绝对法复杂一些，要结合各种实际的情况因素进行考虑
D.为保证结果的精确性，使用绝对法测量时可以多次测量进行分析

A.源的活度和能量是常见的辐射探测目标
B.测量源的位置与远近距离可以用在辐射成像等领域上
C.暂时无法通过测量的信息分析入射粒子的种类
D.可以测量粒子的飞行时间

A.HPGe和Ge（Li）用于组成γ谱仪，Ge较高的密度和原子序数有利于γ射线探测
B.Si（Li）探测器可以作低能量的γ射线和X射线测量
C.Si（Li）探测器可以作β粒子或其他外部入射的电子的探测，因为它原子序数低，反散射小
D.Si（Li）探测器也适合测量高能γ射线

A.电流脉冲宽度约为μs量级
B.反符合技术有助于提高探测器峰康比
C.85立方厘米的高纯锗探测器的相对探测效率约为19%
D.能量线性很好

A.不同原因造成的能量展宽需要平方求和在开方，求总体效应
B.载流子统计涨落、漏电流和噪声均会造成探测器能量分辨率变差
C.不同原因造成的能量展宽可以直接相加求总体效应
D.载流子由于陷阱效应带来的涨落可以通过适当提高偏置电压减小

A.平面型探测器，吸收位置不同但是输出信号基本相同
B.信号脉冲上升时间与入射带电粒子产生电子-空穴对的位置有关
C.同轴型探测器，吸收位置不同但是输出信号基本相同
D.输出电压脉冲信号是前沿不变的