A、JB/T10062—1999
B、JB/T10061—1999
C、TB/T1632.1—2005
D、TB/T2340—2000
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A、≤1%
B、≤2%
C、≤3%
D、≤4%
A、≤10mm
B、≤12mm
C、≤13mm
D、≤14mm
A、≤2%
B、≤3%
C、≤4%
D、≤5%
A、主视图
B、俯视图
C、左视图
D、右视图
A、4Vp—p
B、80Vp—p
C、8Vp—p
D、0.8Vp—p
A、73mm
B、67mm
C、71mm
D、34mm
A、73mm
B、90mm
C、120mm
D、146mm
A、光
B、耦合剂
C、声束覆盖
D、油污
A、直射
B、扫查
C、反射
D、折射
A、光
B、耦合剂
C、空气
D、油污
最新试题
探伤中采用轨头侧面校对法,它主要适用于()的校对。
根据接头钢轨下颚裂纹形成的原因,可知其具有从()逐步扩展的特点。
垂直法局部扫查即探头在整个面上按规定,并事先划出的线上移动,相邻扫查线的间距往往()探头直径。
探头移动过程中同时作()转动,称为摆动扫查。
使用双探头扫查时,如盲目改变扫查方向,将会导致()。
探伤中对工件材料的()有一定的要求。
金相也可通过扫描电子显微镜、透射电子显微镜直接获得,他们主要是用来观察材料的位错,放大倍数一般为()倍。
核对轨头剥离层下的伤损一般采用()。
为了提高探伤结果的可靠性,探伤前应对被检工件的()和形成规律以及受检部位的受力方向等进行调查。
由于各种试件的结构、质量要求不同,可能缺陷的()不一样,因而探测面可能是试件的所有面,也可能是其中的几个面,甚至只有一个可探测面。