在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。

变形振动分为（）。

电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（）。

在红外光谱分析中，基本振动区是指（）。

简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。

利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。