差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。

每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。

扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。

在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。

电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。