变形振动分为（）。

根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。

扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。

利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。

关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（）。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。

在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。