热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。

在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。

电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（）。

1887年，Hertz建立了XPS技术的理论模型。

热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。

当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。

孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。

扫描隧道显微镜能用于观察导体、半导体和绝缘体材料的表面结构。

利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。

在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。