A.首先分析找出过程未受控的原因，即找出影响过程的异常变异原因，使过程达到受控。
B.首先分析找出标准差过大的原因，然后减小变异。
C.首先分析找出平均值太低的原因，用最短时间及最小代价调整好均值。
D.以上步骤顺序不能肯定，应该根据实际情况判断解决问题的途径。
您可能感兴趣的试卷
你可能感兴趣的试题
A：u
B：np
C：c
D：p
A.上下控制限的范围一定与上下公差限的范围相同
B.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围宽
C.上下控制限的范围一定比上下公差限的范围窄
D.上下控制限的范围与上下公差限的范围是相互独立的
A.用塞规，每次检测100件作为一个样本，用np控制图
B.用塞规，每次检测500件作为一个样本，用np控制图
C.用游标卡尺，每次连续检测5根轴，用X.R控制图
D.用游标卡尺，每次连续检测10根轴，用X.R控制图
A.生产根本不稳定。
B.平面度指标不服从正态分布
C.每天内的平面度波动不大，但每天间的平面度波动较大
D.这两张图什么问题也不能说明
A.CCD有旋转性，而Box-Beknken设计没有旋转性
B.CCD有序贯性，而Box-Beknken设计没有序贯性
C.CCD试验点比BOX-Beknken设计试验点少
D.以上各项都对
A.32次。
B.16次。
C.12次（Plackett-Burman设计）。
D.8次。
A.3
B.4
C.5
D.6
A.全因子试验
B.部分实施的二水平正交试验，且增加若干中心点
C.部分实施的二水平正交试验，不增加中心点
D.Plackett-Burman设计
A.8因子的全因子实验
B.8因子的部分因子实验
C.中心复合设计（CCD.
D.Box-Behnken设计
A.E=ABD，F=ABC
B.E=BCD，F=ABC
C.E=ABC，F=ABD
D.E=ACD，F=BCD
最新试题
对于具有3σ控制限的Xbar-R图来说，原来子组样本含量为3，后来重新设计控制图，子组样本量为5，将会导致什么样的结果（）
某个2水平的全因子DOE设计包括4个因子（其中之一乃离散属性的）加3个中心点，6次仿行，请问如果你执行Minitab里的Stat>DOE>Factorial>Create Factorial Design..你会总共得到多少个运行次数？（）
研究完改进措施后，决定进行试生产。试生产半月后，采集了100个数据。发现过程仍未受控，且标准差过大，平均值也低于目标要求。对于这3方面的问题的解决顺序应该是（）.
在质量功能展开QFD中，质量屋的“屋顶”三角形表示（）
假设检验中，如果P＜α（a通常=0.05），则以下结论正确的是：（）
一个用于优化电子控制模块可靠性的2水平5因子试验，只实施全因子试验设计次数的一半。问这个试验的分辨率是？（）
全面生产维护TPM的目的是：（）。
下面关于六西格玛管理概念的理解中最不适当的是（）
在稳健参数设计领域，现在公认较好的试验与建模方法有两种不同类型：一种是（）进行位置与散度建模，另一种是用（）进行响应建模。
下面哪个是生成响应曲面最简单的设计（）