A.把被控量的测量值转变成位移信号
B.调整仪表的零点
C.把被控量的给定值转变成位移信号
D.调整仪表的量程
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你可能感兴趣的试题
A.零,硬芯
B.无穷大,硬芯
C.零,弹性敏感元件
D.无穷大,弹性敏感元件
A.刚度大,在受到相同作用力的情况下变形量小
B.刚度大,在受到相同作用力的情况下变形量大
C.刚度小,在受到相同作用力的情况下变形量小
D.刚度小,在受到相同作用力的情况下变形量大
A.提高金属膜片的刚度
B.减小金属膜片的刚度
C.增大其线性变形范围
D.防止仪表零点漂移
A.波纹管
B.弹簧管
C.膜片
D.膜盒
A.灵敏度越高
B.基本误差越小
C.放大系数越大
D.放大系数越小
A.波纹管的有效面积增大
B.波纹管的有效面积减小
C.波纹管动作的灵敏度提高
D.波纹管线性的位移量增大
A.弹性支承元件,用于调整弹性敏感元件的初始位置
B.弹性支承元件,用于调整仪表的量程
C.弹性敏感元件,用于产生与轴向推力成比例的位移
D.弹性敏感元件,用于对作用力信号产生延时
A.提高线性度和线性变化范围
B.降低波纹管的刚度
C.提高波纹管的刚度
D.减小波纹管的滞后特性
A.弹性支撑元件,用于提高弹性敏感元件的刚度
B.弹性支撑元件,用于调整系统的零点
C.弹性敏感元件,用于产生与输入的压力信号成比例的位移
D.弹性敏感元件,用于对输入的气压信号进行延时
A.O.02~0.1mA
B.O~1mA
C.1~20mA
D.4~20mA
最新试题
相位超前-滞后校正网络在()频段是一个滞后校正环节。
采用串联滞后校正时,通常可使校正后系统的增益剪切频率ωc()。
在频率法校正中,串联超前校正的实质是利用校正装置的()。
采用相位超前校正将使系统的增益剪切频率()。(选填增大或减小)
超前校正适用于改善系统的(),而滞后校正常用于改善系统的()。如果系统的动态和稳态特性均较差时,通常需采用()。
二次振荡环节中包含()个独立储能元件。
用根轨迹法进行系统校正,是将高阶系统看作次阻尼二阶系统进行设计,所以,在校正装置设计之后,需要进行(),看被忽略掉的系统极点对系统动态性能的影响。正因为降阶处理的粗略性,设计初确定主导极点位置时需要留出()。
微分方程阶数从传递函数中看不出来。()
前馈校正一般不单独使用,总是和其他校正方式结合起来构成()控制系统,以满足某些性能要求较高的系统的需要。
对于典型二阶系统,当系统为欠阻尼时,其阶跃响应呈现()。