A.P<0.05，数据服从正态分布
B.P<0.05，数据不服从正态分布
C.图形上有正态的字样，数据服从正态分布
D.以上说法都不正确

A.过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态
B.过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动
C.过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内
D.过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

A.使用交叉型测量系统分析
B.使用嵌套型测量系统分析
C.使用属性一致性判断分析方法
D.以上说法都不正确

A.完全不能接受
B.勉强接受
C.接受
D.无法判断

A.测量系统的线性指量具在量程的任何一处不存在偏倚
B.测量系统的线性指其计量特性随时间保持恒定的能力
C.测量系统的线性指其偏倚在量程范围内呈线性程度
D.以上说法都不正确

A.同一测量者对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的波动
B.不同测量值对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的波动
C.同一测量这对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的均值与基准值/标准值之差
D.以上结果都不正确

A.分辨力小于0.4mm，分辨力满足
B.分辨力小于0.1mm，分辨力满足
C.分辨力大于0.01mm，分辨力不满足
D.分辨力小于0.06mm，分辨力满足

A.在进行测量系统分析之前，应先分析测量量具的分辨力，如果分辨力不足，更换量具
B.测量系统的分辨力应越小越好，企业应购置同类分辨力最小的量具
C.测量系统分析应先进行准确性的判断，如果准确性无法满足，则一定要重新购买新的量具
D.测量系统分析应首先进行精确性的判断，精确性无法满足，只要知道精确性的真实数据，还可以使用

A.同一测量者对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的波动
B.不同测量值对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的波动
C.同一测量者对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的均值与基准值/标准值之差
D.以上结果都不正确

A.超几何分布
B.二项分布
C.威布尔分布
D.泊松分布