A.因为数据顺序变化导致平均值变化,所以Cpk值有变化
B.这是软件分析的误差导致,可以不必在意
C.因为数据的变化导致规格变化,所以Cpk值变化
D.因为数据的变化导致标准差变化,所以Cpk值变化
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A.测量系统导致的变异占总变异的58.8%,此项指标说明测量系统不合格
B.测量系统导致的变异占总变异的41.2%,此项指标说明测量系统合格
C.重复性导致的变异占总变异的58.8%,此项指标说明测量系统不合格
D.再现性导致的变异占总变异的58.8%,此项指标说明测量系统合格
对下图非正态图形的说法正确的是()
A.为右偏,偏度为正
B.为右偏,偏度为负
C.为左偏,偏度为正
D.为左偏,偏度为负
使用合理子组原则进行分组抽样,子组大小为5,共抽取15组数据,计算出每组极差的均值为3.2,数据的均值为26.5,产品的规格为:25±2,参考下表,则产品的CPK为()
A.0.12
B.0.85
C.0.48
D.0.97
A.95.45%
B.97.72%
C.99.73%
D.99.87%
数据正态性检验结果如下,以下说法正确的是()
A.P<0.05,数据服从正态分布
B.P<0.05,数据不服从正态分布
C.图形上有正态的字样,数据服从正态分布
D.以上说法都不正确
A.过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态
B.过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动
C.过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内
D.过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
A.使用交叉型测量系统分析
B.使用嵌套型测量系统分析
C.使用属性一致性判断分析方法
D.以上说法都不正确
A.完全不能接受
B.勉强接受
C.接受
D.无法判断
A.测量系统的线性指量具在量程的任何一处不存在偏倚
B.测量系统的线性指其计量特性随时间保持恒定的能力
C.测量系统的线性指其偏倚在量程范围内呈线性程度
D.以上说法都不正确
A.同一测量者对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的波动
B.不同测量值对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的波动
C.同一测量这对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的均值与基准值/标准值之差
D.以上结果都不正确
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