A.缩小公差
B.减少偏离量
C.降低离散度
D.适当加大公差
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A.合理确定取样间隔
B.合理确定子样容量
C.子样组数最好大于25
D.剔除不明原因的异常数据
A.强调统计分析
B.强调预防为主
C.强调全员参与
D.强调全检
A.点子出界
B.环境改变
C.人员和设备均变动
D.改变工艺参数或采用新工艺
E.更换供应商或更换原材料、零部件
A.分析生产过程是否处于统计控制状态
B.分析该过程的过程能力指数是否满足要求
C.计算过程的不合格品率
D.计算过程的偏移系数
A.X控制图
B.np控制图
C.p控制图
D.c控制图
E.u控制图
A.检出力大小
B.抽样
C.取出数据的难易
D.是否经济
E.是否容易作图
A.控制图
B.X-Rs控制图
C.npT控制图
D.p控制图
E.CT控制图
A.判断过程是否处于统计控制状态
B.评价过程能力
C.判断过程是否处于异常状态
D.判断过程的离散程度
A.管理
B.协调
C.监督
D.鉴定
E.当好领导参谋
A.过程加工的一致性
B.Cp越大,质量能力越弱
C.“质量”能力
D.Cp越大,质量能力越强
E.过程加工的不统一
最新试题
正确使用统计技术,能达到早期预防或及时提出矫正措施并得以及时改善的目的。
当X-MR图中有连续9个点落在中心线同一侧时,说明过程处于()
σ
SPC
Cpk(稳定过程的能力指数)
1924年,美国的品管大师休哈特(W.A.Shewhart)博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中,并发表了著名的“控制图法”(亦称为:Shewhart控制图或3σ控制图。即:一种以实际产品质量特性与依过去经验所分析的过程能力的控制界限比较,而以时间顺序表示出来的图形)。通过对过程变差进行控制,为统计质量管理奠定了理论和方法基础。
在绘制控制图时,不管采取何种方法,均应注意控制图应能显示过程受控,否则不能计算过程能力。
Xbar
过程(Process)
Ppk(性能指数,即初期过程的性能指数)