A.侧面校对法
B.二次波校对波
C.通用仪器校对法
D.0度校对法
E.校对探头直校法
您可能感兴趣的试卷
你可能感兴趣的试题
A.侧磨形成的横向裂纹
B.擦伤下核伤
C.焊补层下核伤
D.剥离掉块下核伤
E.鱼鳞形成的伤损
A.保证探头主声束能扫查到焊筋部位
B.保证探头主声束能扫查到焊缝中心
C.保证对轨底边缘能得到全面的扫查
D.最大探测距离的折射角
E.最大探测距的反射角
A.纵向扫查
B.直线扫查
C.横向扫查
D.格子扫查
E.点扫查
A.灵敏度
B.超声波的强弱
C.声束轴线的方向
D.一次波的声程
E.二次波的探测范围
A.半扩散角减小
B.近场区长度增加
C.波束指向性好
D.半扩散角增大
E.超声波能量集中
A.直探头
B.纵波斜探头
C.横波斜探头
D.表面波探头
E.双晶探头等
A.声束变宽
B.声束变窄
C.声能集中
D.分辨率高
E.分辨率低
A.大小
B.类型
C.形状
D.取向
E.尺寸
A.材料的种类
B.几何形状
C.工件的大小
D.材料状态
E.工件的表面状态
A.制造工艺
B.表面状况
C.缺陷种类
D.材料特性
E.热处理状态
最新试题
垂直法局部扫查即探头在整个面上按规定，并事先划出的线上移动，相邻扫查线的间距往往（）探头直径。
超声波探伤探头的型式一般有（）等。
当脱碳层或显微组织初检结果不合格时，应在（）两支钢轨上取样复验，如两个复验样的复验结果都符合要求，则该批其余的钢轨可以验收。
由于各种试件的结构、质量要求不同，可能缺陷的（）不一样，因而探测面可能是试件的所有面，也可能是其中的几个面，甚至只有一个可探测面。
核对轨头剥离层下的伤损一般采用（）。
探伤扫查过程中，探头的方向应根据（）进行布局和扫查。
根据接头钢轨下颚裂纹形成的原因，可知其具有从（）逐步扩展的特点。
垂直法探伤时，对要求不太高的工件常采用局部法进行扫查，局部法扫查一般分为（）。
探伤中为了保证工件的整个被检部位有足够的声束覆盖，探头扫查线的相邻距离应小于探头的有效直径，应有探头宽度（）的重叠。
探伤中探头晶片尺寸增加，相应的（）对探伤有利。