A.横向分辨力降低
B.声束扩散角增大
C.近场长度增大
D.指向性变钝
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A.应减小阻尼块
B.应使用大直径晶片
C.应使压电晶片在它的共振基频上激励
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A.Q降低,灵敏度提高
B.Q值增大,分辨力提高
C.Q值增大,盲区增大
D.Q值降低,分辨力提高
A.仪器分辨力提高
B.仪器分辨力降低,但超声强度增大
C.声波穿透力降低
D.对试验无影响
A.扫描长度
B.扫描速度
C.单位时间内重复扫描次数
D.锯齿波电压幅度
A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB
A.发射电路在单位时间内重复发射脉冲次数
B.扫描电路每秒钟内重复扫描次数
C.探头晶片在单位时间内向工件重复辐射超声波次数
D.以上全部都是
A.1―2个
B.数十个到数千个
C.与工作频率有同
D.以上都不对
A.灵敏度范围
B.线性范围
C.分辨力范围
D.选择性范围
A.缺陷的性质和大小
B.缺陷的形状和取向
C.缺陷回波的大小和超声传播的时间
D.以上都是
A、声束细,每次扫查探测区域小,频率低
B、每只探头仅适宜探测某一深度范围缺陷,通用性差
C、由于声波的干涉作用和声透镜的球差,声束不能完全汇聚一点
D、以上都是
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