在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。

在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。

关于stokes线和anti-Stokes线，说法正确的是（）。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。

简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。

与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（）比光镜大100-500倍。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。

扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。