A、观测破坏现象
B、防止出现局压
C、注意测点位置
D、偏心
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A、手动油泵
B、扁式千斤顶
C、百分表
D、反力平衡架
A、挑梁下
B、应力集中部位
C、墙梁的墙体计算高度范围内
D、哪里都可以
A、保证有足够的约束墙体
B、防止出现破坏
C、影响测试结果
D、保证方便
A、静力安全鉴定及危房鉴定
B、抗震鉴定
C、大修后的可靠性鉴定
D、房屋改变用途、改建、加层或扩建前的专门鉴定
A、槽间砌体每侧的墙体宽度应不小于1.5m;
B、同一墙体上测点数不宜多于1个,测点数量不宜太多。
C、限用于240mm砖墙。
D、限用于370mm砖墙。
E、原位轴压法应与其他砌筑砂浆强度检测或砌体抗剪强度检测一同使用。
A、-15
B、-10
C、+10
D、+15
A、不离析
B、不泌水
C、强度高
D、施工性能好
A、水泥
B、钙质消碳粉
C、砂
D、掺合料及外加剂
A、稠度
B、分层度
C、试配抗压强度
D、泌水
A、屈服强度
B、极限抗拉强度
C、伸长率
D、冷弯性能
E、抗压强度
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对于同时存在一种施主杂质和一种受主杂质的均匀掺杂的非简并半导体,在温度足够高、ni>>/ND-NA/时,半导体具有()半导体的导电特性。
影响单晶内杂质数量及分布的主要因素是()①原材料中杂质的种类和含量;②杂质的分凝效应;③杂质的蒸发效应;④生长过程中坩埚或系统内杂质的沾污;⑤加入杂质量;
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