A.钝化晶界
B.钝化错位
C.钝化电活性杂质
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A.头尾料和锅底料中含有的氧
B.晶体生长过程中硅熔体与石英坩埚作用引入的氧
C.石墨加热器与坩埚反应引入的氧
D.外界空气的进入
A.氧及其相关缺陷
B.参杂浓度
C.以间隙铁为主的过渡族金属杂质
D.材料中的缺陷密度及其分布
A.高能耗
B.成本低
C.产量高
D.质量稳定
A、1234
B、123
C、2457
D、4567
A、6
B、2
C、4
D、5
A、损坏
B、蒸发
C、坩埚污染
D、分凝
A、加料—缩颈生长—熔化—放肩生长—等径生长—尾部生长
B、加料—熔化—缩颈生长—等径生长—放肩生长—尾部生长
C、加料—熔化—等径生长—放肩生长—缩颈生长—尾部生长
D、加料—熔化—缩颈生长—放肩生长—等径生长—尾部生长
A、低于
B、等于或大于
C、大于
D、小于或等于
A、位错
B、层错
C、肖特基缺陷
D、螺旋位错
A、用能量小于禁带宽度的光子照射p-n结;
B、p、n区都产生电子—空穴对,产生平衡载流子;
C、平衡载流子破坏原来的热平衡;
D、非平衡载流子在内建电场作用下,n区空穴向p区扩散,p区电子向n区扩散;若p-n结开路,在结的两边积累电子—空穴对,产生开路电压。
最新试题
多晶硅的生产方法主要包含:()1)冶金法2)硅烷法3)重掺硅废料提纯法4)西门子改良法5)SiCl4法6)气液沉淀法7)流化床法
与半导体相比较,绝缘体的价带电子激发到导带所需的能量()
CZ法的主要流程工艺顺序正确的是()
下列是晶体的是()。
铸造多晶硅中的氧主要来源不包括()
硅片抛光在原理上不可分为()
杂质半导体中的载流子输运过程的散射机构中,当温度升高时,电离杂质散射的概率和晶格振动声子的散射概率的变化分别是()
对于同时存在一种施主杂质和一种受主杂质的均匀掺杂的非简并半导体,在温度足够高、ni>>/ND-NA/时,半导体具有()半导体的导电特性。
铸造多晶硅中氢的主要作用包括()
只涉及到大约一个原子大小范围的晶格缺陷是()。