在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

扫描隧道显微镜能用于观察导体、半导体和绝缘体材料的表面结构。

关于stokes线和anti-Stokes线，说法正确的是（）。

在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。

粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。

红外光分为（）。

电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。

晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）。