填空题负胶适于刻蚀()(细/粗)线条。
您可能感兴趣的试卷
你可能感兴趣的试题
3.单项选择题
下面选项属于主扩散的作用有()。
1.调节表面浓度
2.控制进入硅表面内部的杂质总量
3.控制结深
A.1
B.2
C.3
D.1、3
4.单项选择题
不论正胶或负胶,光刻过程中都包括如下步骤:
1.刻蚀
2.前烘
3..显影
4.去胶
5.涂胶
6.曝光
7.坚膜
以下选项排列正确的是:()。
A.2561437
B.5263471
C.5263741
D.5263714。
5.单项选择题半导体器件生产中所制备的二氧化硅薄膜属于()。
A.结晶形二氧化硅
B.无定形二氧化硅
6.名词解释再分布
7.名词解释平均投影射程RP
8.名词解释非桥键氧
9.名词解释阱
10.名词解释互连
最新试题
进行光刻工艺前的清洗步骤是()。
题型:单项选择题
当许多损伤区连在一起时就会形成连续的非晶层,开始形成连续非晶层的注入剂量称为()。
题型:单项选择题
消除鸟嘴效应的方法有()。
题型:多项选择题
IC集成度和性能得以不断提高的理论基础是()。
题型:多项选择题
金属化中可选用的金属材料有()。
题型:多项选择题
三光检查主要是检查芯片粘贴和引线焊接之后有无各种废品。
题型:判断题
下面哪道工序主要是针对晶圆切割之后在显微镜下进行晶圆r的外观检查,是否有出现废品?()
题型:单项选择题
硅暴露在空气中,在室温下即可产生二氧化硅层,厚度约为()。
题型:单项选择题
光刻工艺对准误差包括()。
题型:多项选择题
下面哪个选项不是集成电路工艺用化学气体质量的指标?()
题型:单项选择题