剥离层下核伤可采用轨颚法进行校对，用轨颚校对法校对时，需在钢轨表面校对的灵敏度的基础上增加（）。

在超声波探伤中当工件声衰减很小、试件的厚度较大时，如果重复频率过高，仪器可能会产生（）

探伤中采用轨头侧面校对法，它主要适用于（）的校对。

探伤扫查过程中，探头的方向应根据（）进行布局和扫查。

通用仪器对焊补层的下核伤是以核伤最高反射回波的80%再增益12dB作为校对灵敏度，以最大回波显示的刻度来确定（）。

金相也可通过扫描电子显微镜、透射电子显微镜直接获得，他们主要是用来观察材料的位错，放大倍数一般为（）倍。

在横波探伤中，探头K值对探伤（）有较大的影响。

使用双探头扫查时，如盲目改变扫查方向，将会导致（）。

由于各种试件的结构、质量要求不同，可能缺陷的（）不一样，因而探测面可能是试件的所有面，也可能是其中的几个面，甚至只有一个可探测面。

垂直法探伤时，对要求不太高的工件常采用局部法进行扫查，局部法扫查一般分为（）。