简述硼和磷的退火特性。
下图为一个典型的离子注入系统。(1)给出1~6数字标识部分的名称,简述其作用。(2)阐述部件2的工作原理。
Si-SiO2界面电荷有哪几种?简述其来源及处理办法。
一片硅片由0.3um厚的SiO2薄膜覆盖。所需数据见下表,玻尔兹曼常数k=1.38×10-23。(1)在1200℃下,采用H2O氧化,使厚度增加0.5um需要多少时间?。(2)在1200℃下,采用干氧氧化,增加同样的厚度需要多少时间?
最新试题
解释光刻胶显影。光刻胶显影的目的是什么?
定义刻蚀速率并描述它的计算公式。为什么希望有高的刻蚀速率?
干法刻蚀的目的是什么?例举干法刻蚀同湿法刻蚀相比具有的优点。干法刻蚀的不足之处是什么?
解释离子束扩展和空间电荷中和。
叙述氮化硅的湿法化学去除工艺。
描述化学机械平坦化工艺。
在硅片制造中光刻胶的两种目的是什么?
例举离子注入设备的5个主要子系统。
例举并讨论引入铜金属化的五大优点。
解释发生刻蚀反应的化学机理和物理机理。