失效表明离子交换树脂可供交换的（）大为减少。

单项选择题失效表明离子交换树脂可供交换的（）大为减少。

A.Cｌ¯
B.NA
C.H﹢和OH¯
D.CA

1.单项选择题悬浮区熔法检验多晶硅中基磷含量时，采用快速区熔法的工艺时，第一次区熔时，第一区熔区停留挥发时间（）左右。

A.3ｍｉｎ
B.5ｍｉｎ
C.7ｍｉｎ
D.10ｍｉｎ

2.单项选择题光图定向法结果直观，操作（），误差（）。

A．简单较大
B．复杂较大
C．简单较小
D．复杂较小

3.单项选择题（）是影响硅器件成品率的一个重要因素，也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。

A.点缺陷
B.线缺陷
C.面缺陷
D.微缺陷

4.单项选择题用冷热探笔法测量（）半导体时，冷端带正电，热端带负电。

A.P型
B.N
C.PN型
D.以上皆不是

5.填空题半导体材料的电阻率与（），以及载流子迁移率有关。

6.填空题硅半导体的导电过程存在（）和空穴两种载流子。

7.填空题测出的就是点接触外表面的导电类型。要求（），无氧化层，清洁无油污。

8.填空题光电导衰退法是目前应用最广的方法，它有（）和直流光电导之分。

9.填空题目前测定硅单晶中的氧，碳含量最常用的方法（）收法。

10.填空题当任何一种高速运动的（）与一块金属物质相撞时，都会产生X射线。