正的电荷。 负的电荷。 界面陷阱电荷。 可移动氧化物电荷。
最新试题
刻蚀过程中聚合物形成的来源有()。
下面哪些元素属于半径较小的杂质原子?()
掺杂后退火时间一般在()。
如下哪个选项不是半导体器件制备过程中的主要污染物?()
掺杂后,退火的目的是()。
进行沟槽填充常用的金属材料是()。
进行光刻工艺前的清洗步骤是()。
刻蚀工艺可以和以下哪个工艺结合来实现图形的转移?()
CMP的设备构成包括()。
光刻工艺对准误差包括()。