问答题设1μmCMOS工艺的参数为:栅氧化层厚度35nm,栅氧化层介电常数ε0εox为3.45x10-13F/cm,电子迁移率500cm2/V.s空穴迁移率200cm2/V.s,阈值电压Vtn=-Vtp=0.8V晶体管最小栅宽3μm,电源电压3V,有两个反相器相连(栅长相等),前一级为最小尺寸,后一级宽长比为前一级的3倍,驱动的负载CL=10fF,试求反相器链的延迟时间。
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