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采用CF4作为气体源对SiO2进行刻蚀,在进气中分别加入O2或H2对刻蚀速率有什么影响?随着O2或H2进气量的增加,对Si和SiO2刻蚀选择性怎样变化?为什么?
最新试题
解释离子束扩展和空间电荷中和。
在硅片制造中光刻胶的两种目的是什么?
解释正性光刻和负性光刻的区别?为什么正胶是普遍使用的光刻胶?最常用的正胶是指哪些胶?
例出光刻的8个步骤,并对每一步做出简要解释。
定义刻蚀速率并描述它的计算公式。为什么希望有高的刻蚀速率?
解释发生刻蚀反应的化学机理和物理机理。
离子源的目的是什么?最常用的离子源是什么?
描述曝光波长和图像分辨率之间的关系。
描述化学机械平坦化工艺。
光刻中采用步进扫描技术获得了什么好处?