单项选择题掺氯氧化使用的HCL是()。
A.液态源
B.固态源
C.气态源
您可能感兴趣的试卷
你可能感兴趣的试题
1.单项选择题二氧化硅中每个硅原子周围有()个氧原子。
A.1
B.2
C.3
D.4
2.单项选择题以下哪项不是STI工艺气体?()
A.SiH4
B.O2
C.N2O
D.Ar
3.单项选择题CMP清洗部分的顺序是()。
A.兆声清洗(Meg)-SRD(甩干)-Brush(刷洗)
B.兆声清洗(Meg)-Brush(刷洗)-SRD(甩干)
C.Brush(刷洗)-兆声清洗(Meg)-SRD(甩干)
D.Brush(刷洗)-SRD(甩干)-兆声清洗(Meg)
4.单项选择题高电流注入机的扫描方式为()。
A.静电扫描
B.机械扫描
C.静电扫描与机械扫描结合
5.单项选择题下列选项属于BF3的特性的是()
A.黄色标识,有白烟
B.红色标识,臭大蒜味道
C.黑色标识,无色大蒜味
6.单项选择题离子注入机机架外壳和高压放电棒接地电阻小于()。
A.1Ω
B.5Ω
C.10Ω
8.判断题扩散的低压工艺有多晶、氮化硅和TEOS。
9.判断题LPCVD多晶的反应气体是二氯二氢硅。
10.判断题氮化硅去除使用的是磷酸药液。
最新试题
键合点根部容易发生微裂纹,原因可能是键合操作中机械疲劳,也可能是温度循环导致热应力疲劳。
题型:判断题
下列属于BGAA形式的是()。
题型:多项选择题
下面不属于QFP封装改进品质的是()。
题型:单项选择题
去毛飞边工艺指的是将芯片多余部分进行有效的切除。
题型:判断题
通常芯片上的引出端焊盘是排列在管芯片附近的方形()。
题型:单项选择题
凸点的制作技术有()。
题型:多项选择题
下面选项中硅片减薄技术正确的是()。
题型:单项选择题
QFP的结构形式因带有引线框(L/F),对设定的电性能无法调整,而BGA可以通过芯片片基结构的变更,得到所需的电性能。
题型:判断题
使用3D封装技术可以实现40~50倍的成品尺寸和重量的减少。
题型:判断题
键合工艺失效,,键合点尾丝不一致,可能产生的原因有()。
题型:多项选择题